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适用于光学、半导体及FPD应用—岛津UV-VIS-NIR分光光度计，是一款高级的高灵敏度分光光度计，可进行深紫外区检测，具备大样品室，可满足光学、半导体及FPD在以下方面的检测需求。
特点
高灵敏度
SolidSpec-3700和3700DUV是一台使用3个检测器的分光光度计：光电倍增管（PMT）探测器检测紫外区和可见光区，近红外区使用InGaAs 和 PbS检测器。InGaAs 和 PbS检测器的使用使得近红外区域的灵敏度显著增强。
深紫外区检测
SolidSpec-3700DUV具有检测深紫外区的能力，可测定至165nm或175nm的积分球。此检测是用氮气吹扫光室和样品室进行的。注： 165nm是SolidSpec-3700DUV使用直接受光单元DDU-DUV测定）的最短波长。
大样品室
大样品室（900W x 700D x 350H mm) 可在不损伤大样品的前提下进行检测。其垂直光路可直接测量大样品同时保持它们的水平状态。使用自动X-Y样品台（选配）测定样品的尺寸是12英寸或310×310mm。
FPD：
材料评估中NIR和大样品的高灵敏度测定。
半导体：
短波长激光和12英寸晶片整体表面的深紫外区测定。
光通信：
减反射膜NIR高灵敏度测定。
光学：
从DUV到NIR再到大样品的高灵敏度分析。